ホーム
>製品情報
>計測・試験・光学
>計測機器
>白色干渉計(Micro-Epsilon Japan株式会社)

製品情報

「新製品情報誌」2026年9月号掲載
資料請求No.1260902302

計測・試験・光学
計測機器

Siウエハーなどの厚みを高精度測定

白色干渉計

Micro-Epsilon Japan株式会社
大阪府吹田市江坂町1-23-43ファサード江坂ビル10F1003号室

 「interferoMETER IMS5420-TH24」はハイドープSiウエハーからガラスウエハーまで、厚みを非接触・高精度・高速測定できる。厚みをミクロンレベルで可視化し、製造現場の品質向上と検査効率化を支える。

その他製品情報

Micro-Epsilon Japan株式会社

「新製品情報誌」2026年9月号掲載
No. 1260902307

「新製品情報誌」2026年9月号掲載
No. 1260902302

「新製品情報誌」2026年9月号掲載
No. 1260902201

「新製品情報誌」2026年8月号掲載
No. 1260802604

製品情報検索

資料請求番号

キーワード


製品名、企業名その他のキーワードをスペース区切りで3つまで入力できます(AND検索)。

製品分類

掲載号

月号〜月号

※掲載後2年間分の情報を検索できます。
はじまりはいつも現場(ココ)から。