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製品情報

「新製品情報誌」2023年3月号掲載
資料請求No.1230301603

計測・試験・光学
計測機器

測定時間の短縮に貢献

膜厚分布測定装置

JFEテクノリサーチ株式会社
東京都千代田区大手町1-6-1 大手町ビル4階

 「FiDiCa」は、シリコンウエハ、ガラス、樹脂フィルムなどの測定対象全面の膜厚を光干渉法で測定する装置。測定は独自のアルゴリズムを用いて、400万点の膜厚データを約90秒(材質、条件による)で測定・演算可能。

その他製品情報

JFEテクノリサーチ株式会社

「新製品情報誌」2023年12月号掲載

産業用機械
400万点を2分で膜厚計測
膜厚分布測定装置
JFEテクノリサーチ株式会社(東京都千代田区大手町1-6-1 大手町ビル4階)

「新製品情報誌」2023年3月号掲載

計測機器
測定時間の短縮に貢献
膜厚分布測定装置
JFEテクノリサーチ株式会社(東京都千代田区大手町1-6-1 大手町ビル4階)

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