「新製品情報誌」2023年1月号掲載 資料請求No.1230101403
試料断面をノーダメージで仕上げ加工
「野上S工法治具」は、走査電子顕微鏡(SEM)観察したい試料断面をノーダメージ加工でき、サンプル各層の剥離や金属層の引きずりを抑えた平滑で良好な断面が得られる。イオンミリング・CP加工時間を大幅短縮できる。
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「新製品情報誌」2023年8月号掲載
「新製品情報誌」2023年1月号掲載
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