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製品情報

「新製品情報誌」2025年1月号掲載
資料請求No.1250101901

計測・試験・光学
計測機器

幾何学形状測定・表面検査に

スナップショットセンサ

Micro-Epsilon Japan株式会社
大阪府吹田市江坂町1-23-43ファサード江坂ビル10F1003号室

 「surfaceCONTROL SC3500シリーズ」は高分解能の3Dスナップショットセンサ。従来品からの大幅な改善によりz軸最小分解能0.25μm、xy分解能8μm、繰返し性0.25μm、データ取得時間0.2sを実現。インラインで物体の形状測定や表面検査に最適。

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Micro-Epsilon Japan株式会社

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