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>粒子径・形状分布測定装置 (株式会社日本レーザー)

製品情報

「新製品情報誌」2022年12月号掲載
資料請求No.1221202802

計測・試験・光学
計測機器

乾燥粉末でも最小1.8μmから測定可能

粒子径・形状分布測定装置

株式会社日本レーザー
東京都新宿区西早稲田2-14-1

 「QICPIC/L」シリーズは、新しいパルス光源を採用し、画像品質を改善した動的画像解析式粒子径・形状分布測定装置。乾燥粉末も最小1.8μmから測定でき、微粒子や乾燥粉末の測定性能を向上。少サンプル量で再現性の高い測定結果を得る。

その他製品情報

株式会社日本レーザー

「新製品情報誌」2024年4月号掲載
No. 1240403801

「新製品情報誌」2024年1月号掲載
No. 1240104203

「新製品情報誌」2023年7月号掲載

「新製品情報誌」2022年12月号掲載

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