モノづくり現場の業務改善や開発にあらたな着想を得る新製品・サービス情報を発信｜日刊工業新聞社「新製品情報」

「新製品情報誌」2022年12月号掲載
資料請求No.1221202802

計測・試験・光学

計測機器

乾燥粉末でも最小1.8μmから測定可能

粒子径・形状分布測定装置

株式会社日本レーザー

東京都新宿区西早稲田２－１４－１

　「QICPIC/L」シリーズは、新しいパルス光源を採用し、画像品質を改善した動的画像解析式粒子径・形状分布測定装置。乾燥粉末も最小1.8μmから測定でき、微粒子や乾燥粉末の測定性能を向上。少サンプル量で再現性の高い測定結果を得る。