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「新製品情報誌」2019年12月号掲載
資料請求No.1191206402

計測・試験・光学
計測機器

試料の加工時間を短縮できる

集束イオンビーム加工観察装置

日本電子株式会社
東京都昭島市武蔵野3丁目1番2号

　「JIB-4000プラス」は、イオンビームの高電流化で試料の加工時間を短縮した集束イオンビーム加工観察装置。試料表面の走査イオン顕微鏡像観察やミリング加工が行え、薄膜試料や試料内部を観察するための断面試料を作製できる。

集束イオンビーム加工観察装置
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