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製品情報

「新製品情報誌」2018年10月号掲載
資料請求No.1181002004

計測・試験・光学
計測機器

粒子1つ1つを計測して高精度解析

ナノ粒子マルチアナライザー

メイワフォーシス株式会社
東京都新宿区新宿1-14-2 KI御苑前ビル

 40nm〜10μmの粒子測定が可能。シンプルな操作で「TEMと同等の高精度サイズ測定」「濃度(個数/mL)の定量測定」「1粒子ごとの表面電荷量の計測」「粒子間の相互作用解析」を実現。

その他製品情報

メイワフォーシス株式会社

「新製品情報誌」2018年10月号掲載
No. 1181002004

計測機器
粒子1つ1つを計測して高精度解析
ナノ粒子マルチアナライザー
メイワフォーシス株式会社(東京都新宿区新宿1-14-2 KI御苑前ビル)

「新製品情報誌」2018年9月号掲載
No. 1180902803

計測機器
0.25nmの極薄導電被膜を成膜
オスミウムコーティング装置
メイワフォーシス株式会社(東京都新宿区新宿1-14-2 KI御苑前ビル)

「新製品情報誌」2018年8月号掲載
No. 1180803905

工作機械
断面解析に最適な切断装置
ダイヤモンドワイヤーソー
メイワフォーシス株式会社(東京都新宿区新宿1-14-2 KI御苑前ビル)

「新製品情報誌」2018年8月号掲載
No. 1180803204

計測機器
0.25nmの極薄導電被膜を成膜
オスミウムコーティング装置
メイワフォーシス株式会社(東京都新宿区新宿1-14-2 KI御苑前ビル)

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